重庆仪器仪表近场辐射分析仪价格 扬芯科技供应

平面散射近场测量的基本理论已由文献［12～15］给出。其基本原理是综合平面波法，综合平面波的基本思想为：如果对一个由N个辐射单元组成的线阵同时进行激励，每个辐射单元产生一个准球面波e（θ，φ），选择一个与方向角（θ，φ）有关的权函数W（θ，φ）对每个e（θ，φ）进行加权并求和（线性系统），则所得的加权求和函数近似为均匀平面波，重庆仪器仪表近场辐射分析仪价格，重庆仪器仪表近场辐射分析仪价格，对不同方向的（θ，φ）选择不同W（θ，φ）就可以获得不同方向上的平面波对被测目标的照射。这一过程实现了对平面波的综合（这与综合口径雷达SAR的概念极为相似），并很容易在计算机上完成，重庆仪器仪表近场辐射分析仪价格。对近场似乎还没有正式的定义，它取决于应用本身和天线。重庆仪器仪表近场辐射分析仪价格

天线口径场分布诊断是通过测量天线近区场的分布逆推出天线口径场分布，从而判断出口径场畸变处所对应的辐射单元，这就是天线口径分布诊断的基本原理。该方法对具有一维圆对称天线口径分布的分析是可靠的，尤其对相控阵天线的分析与测量已有了充分的可信度。天线方向图副瓣电平在-28～-35 dB之间的天线称为低副瓣天线；副瓣电平小于-40 dB的天线称为很低副瓣天线。对它们的测量要用到“零探头”技术，据文献报导，副瓣电平在-40 dB以上时，测量精度为±3 dB，副瓣电平为-55 dB时，测量精度为±5 dB。重庆仪器仪表近场辐射分析仪价格实际上电场和磁场互相产生，这样的“单独”波就是无线电波。

辐射近场测量是用一个已知探头天线（口径几何尺寸远小于1λ）在离开辐射体（通常是天线）3λ～5λ的距离上扫描测量（按照取样定理进行抽样）一个平面或曲面上电磁场的幅度和相位数据，再经过严格的数学变换计算出天线远区场的电特性。当取样扫描面为平面时，则称为平面近场测量；若取样扫描面为柱面，则称为柱面近场测量；如果取样扫描面为球面，则称为球面近场测量。其主要研究方法为模式展开法，该方法的基本思想为：空间任意一个时谐电磁波可以分解为沿各个方向传播的平面波或柱面波或球面波之和。

在近场工作区内针对主反射墙的吸波材料进行特定频段吸收特性的测试。测试近场工作区反射电平时，发射天线先置于暗室中心轴线上，接收天线置于正对被测墙壁的一个合理位置，并沿两天线轴线移动一段距离进行反射电平的测试。测试步骤：连接好测试系统，按置发射天线及接收天线于测试位置Ⅰ；设置信号源频率为1GHz，输出功率调至合适大小使发射天线辐射信号，接收天线在正对发射天线方向，沿待测行程线移动，并记录接收信号曲线，测试曲线作为这条行程线的参考电平线；将接收天线方向朝向被测墙壁吸波材料方向，接收天线沿这条测量行程线移动，并记录空间驻波曲线。一般情况下，对于电压高电流小的场源(如发射天线、馈线等)。

柱面辐射近场测量能够计算天线全部面的辐射方向图，但在θ=-90°或90°时，柱面波展开式中汉克尔函数已无意义，所以，柱面辐射近场测量适用于天线方向图为扇形波束天线的测量。球面辐射近场测量能够计算除球心以外天线任意面上任意点的辐射场，但测量及计算时间都较长。辐射近场测量的基本理论虽然已经成熟，且在实用中也取得了较多的研究成果，但对以下问题还应进行进一步的探讨研究：考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式。所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的，这些公式对常规天线的测量有一定的精度，但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素，因此，需要建立严格的耦合方程。反应区里，电场和磁场是很强的，并且可以单独测量。重庆仪器仪表近场辐射分析仪价格

以焦斑为中心，落在其前后半个瑞利长度范围外的光场为近场，否则称为远场。重庆仪器仪表近场辐射分析仪价格

电场是由电压产生，主要的发射源包括一些未端接器件的线缆 、连接高阻器件的PCB 布线等。简单的电场探头类似一根小天线。有人甚至把同轴电缆前端的一小段屏蔽层剥开，露出芯线来构成简单的电场探头进行使用。在没有屏蔽设备的情况下，电场探头的问题是比较容易拾取到环境中存在的电磁波信号，如蜂窝通信的上下行信号，从而影响到整个测试系统的测量动态范围。因为磁场是由电流产生的，所以常见的发射源包括芯片，器件的管脚、PCB 上的布线、电源线及信号线缆。常见的磁场探头多为环状，当磁场传播线和探头环面垂直的时候，测量数值很大。所以在测量过程中，工程师一般需要旋转探头的方向来测量到很大的磁场数值，同时避免遗漏重要的发射源。重庆仪器仪表近场辐射分析仪价格

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